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晶振系列

首頁(yè)進(jìn)口晶振泰藝晶振,XZ晶振,2016晶振,無(wú)源晶體,XZLAAAAANF-12.000000

    泰藝晶振,XZ晶振,2016晶振,無(wú)源晶體,XZLAAAAANF-12.000000

  • 規(guī)格型號(hào):68655484
  • 頻率:16.000MHZ~60.000MHZ
  • 尺寸:2.0*1.65*0.45mm 詳細(xì)資料請(qǐng)查看PDF
  • PDF
  • 產(chǎn)品描述:產(chǎn)品廣泛用于筆記本電腦,"XZLAAAAANF-12.000000"無(wú)線電話,衛(wèi)星導(dǎo)航HDD,SSD,USB,Blu-ray,移動(dòng)通信終端等產(chǎn)品.

泰藝晶振,XZ晶振,2016晶振,無(wú)源晶體"XZLAAAAANF-12.000000"
頻率范圍:16.000MHZ~60.000MHZ
激勵(lì)電平: 10μW (Max. 200μW )
并聯(lián)電容: 3PF
工作溫度: -10℃~+60℃
保存溫度: -55℃~+125℃
精度 ±10ppm
捆包單位:3000pcs/reel
尺寸:世界級(jí)小型2.0*1*6*0.45
應(yīng)用:DVD機(jī),MP5,自動(dòng)控制洗衣機(jī),電子體重稱,電子血壓計(jì),藍(lán)牙耳機(jī),電子防盜門,無(wú)線模塊等產(chǎn)品。


        泰藝電子保證本公司及(或)本公司之關(guān)系企業(yè)所提供之石英晶振、陶瓷晶振、符合「沖突礦產(chǎn)政策」文件所要求之標(biāo)準(zhǔn)。身為良好的企業(yè)公民,我們自當(dāng)善盡社會(huì)責(zé)任、尊重人權(quán),并持續(xù)關(guān)注沖突礦產(chǎn)議題,致力詳實(shí)調(diào)查供應(yīng)鏈,以確保錫(Sn)、鉭(Ta)、鎢(W)、金(Au)、鈷(Co)、鈀(Pd)等金屬,"XZLAAAAANF-12.000000"并非來(lái)自剛果民主共和國(guó)及其鄰近國(guó)家受武裝團(tuán)體控制之礦區(qū)所開(kāi)采。

       泰藝電子集團(tuán)秉持誠(chéng)信的營(yíng)運(yùn)方針,落實(shí)公平正義的企業(yè)品德?;?a href="/taiyijingzhen/" target="_blank">泰藝晶振電子對(duì)于道德價(jià)值的追求,董事會(huì)及經(jīng)營(yíng)階層研擬「誠(chéng)信廉潔協(xié)議」,以確保本公司的道德誠(chéng)信及從業(yè)行為基本原則。

        泰藝晶振,XZ晶振,2016晶振,無(wú)源晶體,是臺(tái)灣泰藝電子無(wú)源石英晶體諧振器中最小的一款,尺寸僅僅只有2.0*1.6mm,厚度為0.45mm,為了對(duì)應(yīng)現(xiàn)代化越來(lái)越小為時(shí)尚的產(chǎn)品特點(diǎn),晶振也在不斷的縮小,這款XZ晶振就是其中的典型,16M~60M的頻率范圍,"XZLAAAAANF-12.000000"和精度為±10ppm的使其擁有高穩(wěn)定的可信賴性。

泰藝晶振型號(hào) XZ晶振,臺(tái)灣泰藝電子
頻率范圍 16.000MHZ~60.000MHZ
頻率公差(25℃) ±10ppm 可指定
頻率穩(wěn)定度超過(guò)工作溫度范圍 ±15ppm,±20ppm,±30ppm,±50ppm 可指定
操作溫度范圍  -10℃~+60℃,可指定
并聯(lián)電容CO 5pF Max.
驅(qū)動(dòng)電平 100μW (Max. 300μW )
負(fù)載電容 7pF~12pF可指定
老化(25℃) ±3 ppm /年最大。
存儲(chǔ)溫度范圍 -55℃~+125℃



抗沖擊
晶體產(chǎn)品可能會(huì)在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落或在貼裝過(guò)程中受到?jīng)_擊。"XZLAAAAANF-12.000000"如果產(chǎn)品已受過(guò)沖擊請(qǐng)勿使用。
輻射
暴露于輻射環(huán)境會(huì)導(dǎo)致性能受到損害,因此石英晶振應(yīng)避免照射。
化學(xué)制劑 / pH值環(huán)境
請(qǐng)勿在PH值范圍可能導(dǎo)致腐蝕或溶解產(chǎn)品或包裝材料的環(huán)境下使用或儲(chǔ)藏這些產(chǎn)品。
粘合劑
請(qǐng)勿使用可能導(dǎo)致晶振所用的封裝材料,終端,組件,玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。 (比如,氯基膠粘劑可能腐蝕一個(gè)晶體單元的金屬“蓋”,從而破壞密封質(zhì)量,降低性能。)
鹵化合物
請(qǐng)勿在鹵素氣體環(huán)境下使用。即使少量的鹵素氣體,"XZLAAAAANF-12.000000"比如在空氣中的氯氣內(nèi)或封裝所用金屬部件內(nèi),都可能產(chǎn)生腐蝕。同時(shí),請(qǐng)勿使用任何會(huì)釋放出鹵素氣體的樹脂。
靜電
過(guò)高的靜電可能會(huì)損壞貼片晶振,請(qǐng)注意抗靜電條件。請(qǐng)為容器和封裝材料選擇導(dǎo)電材料。在處理的時(shí)候,請(qǐng)使用電焊槍和無(wú)高電壓泄漏的測(cè)量電路,并進(jìn)行接地操作。


輸出波形與測(cè)試電路
1.時(shí)序表

2.    測(cè)試條件
(1)   電源電壓
   超過(guò) 150µs,直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。
  電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)   其他"XZLAAAAANF-12.000000"
   輸入電容低于 15 pF
   5倍頻率范圍或更多測(cè)量頻率。
   鉛探頭應(yīng)盡可能短。
   測(cè)量頻率時(shí),探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過(guò)放大器時(shí),可同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
(3)   其他
    CL包含探頭電容。
    應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
    使用微型插槽,以觀察波形。
(請(qǐng)勿使用該探頭的長(zhǎng)接地線。)

3.    測(cè)試電路

XZ :在頻率電壓控制功能時(shí),進(jìn)行連接
1CMOS 負(fù)載
型號(hào):

XZ
2 抗低,電容負(fù)載
型號(hào):

XZ
              
3 TTL 負(fù)載
型號(hào):

XZ
               
4 LV-PECL 負(fù)載
型號(hào):

XZ
                 
5LV-PECL 負(fù)載
型號(hào):

XZ
6 LV-PECL 負(fù)載
型號(hào):

XZ
7 LVDS 負(fù)載
型號(hào):

XZ
8 HCSL 負(fù)載
型號(hào):

XZ

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