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晶振系列

首頁進(jìn)口晶振Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體

    Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體

  • 規(guī)格型號:56490911
  • 頻率:12.000MHZ~66.000MHZ
  • 尺寸:3.2*2.5*0.65mm 詳細(xì)資料請查看PDF
  • PDF
  • 產(chǎn)品描述:常用于在辦公自動化,家電相關(guān)電器領(lǐng)域及Bluetooth,Wireless LAN等短距離無線通信等領(lǐng)域.

Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體
頻率范圍:12.000MHZ~66.000MHZ
激勵電平: 10μW (Max. 100μW )
負(fù)載電容: 16PF
工作溫度: -20℃~+10℃
保存溫度: -55℃~+125℃
精度 ±10ppm,±20ppm,±30ppm,±50ppm
捆包單位:3000pcs/reel
尺寸:普通小型3.2*2.5*0.65
應(yīng)用:車載藍(lán)牙耳機(jī),行車記錄儀,汽車?yán)走_(dá),車載導(dǎo)航系統(tǒng),車載顯示屏設(shè)備,車載冰箱,車載路由器,車載MV
等產(chǎn)品。

        Pericom我們是一家專為計算、通訊與消費產(chǎn)品市場提供集成化連接、先進(jìn)時頻和信號完整性解決方案的、快速增長的晶振半導(dǎo)體公司。我們的技術(shù)為高帶寬、高速串行連接協(xié)議所引起的挑戰(zhàn)提供了系統(tǒng)設(shè)計解決方案。
       在Pericom,質(zhì)量是全體員工共有的理念,其質(zhì)量管理體系被設(shè)計為確保所有最終端產(chǎn)品都處于有效運作狀態(tài)。 Pericom的石英晶振質(zhì)量方針是為我們的客戶提供世界級的產(chǎn)品的承諾。


        Pericom晶振,FL晶振,3225晶振,SMD晶體的生產(chǎn)公司百利通亞陶是美國創(chuàng)立的一家晶振公司,在臺灣設(shè)立工廠,3225晶振已被確立為最適合用于汽車電子領(lǐng)域的貼片石英晶振,一直以來都被世界各大汽車生產(chǎn)商爭相采用,FL晶振同時符合了歐洲聯(lián)盟的ROHS規(guī)定,和汽車電氣委員會的AEQ-Q200的標(biāo)準(zhǔn),可放心使用。

百利通亞陶晶振型號 FL晶振,亞陶貼片晶振
頻率范圍 12.000MHZ~66.000MHZ
頻率公差(25℃)  ±10ppm,±20ppm,±30ppm,±50ppm可指定
頻率穩(wěn)定度超過工作溫度范圍 ±30ppm,±50ppm 可指定
操作溫度范圍  -20℃~+70℃,可指定
并聯(lián)電容CO 5pF Max.
驅(qū)動電平 10μW (Max. 100μW )
負(fù)載電容 8pF~32pF可指定
老化(25℃) ±3 ppm /年最大。
存儲溫度范圍 -55℃~+125℃



操作
請勿用鑷子或任何堅硬的工具,夾具直接接觸SMD晶振的表面。
使用環(huán)境(溫度和濕度)
請在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)使用產(chǎn)品。這個溫度涉及本體的和季節(jié)變化的溫度。在高濕環(huán)境下,會由于凝露引起故障。請避免凝露的產(chǎn)生。 
激勵功率
在晶體單元上施加過多驅(qū)動力,會導(dǎo)致石英晶體特性受到損害或破壞。電路設(shè)計必須能夠維持適當(dāng)?shù)募罟β?(請參閱“激勵功率”章節(jié)內(nèi)容)。
負(fù)極電阻
除非振蕩回路中分配足夠多的負(fù)極電阻,否則振蕩或振蕩啟動時間可能會增加(請參閱“關(guān)于振蕩”章節(jié)內(nèi)容)。
負(fù)載電容
振蕩電路中負(fù)載電容的不同,可能導(dǎo)致進(jìn)口晶振振蕩頻率與設(shè)計頻率之間產(chǎn)生偏差。試圖通過強力調(diào)整,可能只會導(dǎo)致不正常的振蕩。在使用之前,請指明該振動電路的負(fù)載電容(請參閱“負(fù)載電容”章節(jié)內(nèi)容)。


輸出波形與測試電路
1.時序表

2.    測試條件
(1)   電源電壓
   超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達(dá)到 90 % 。
  電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。
(2)   其他
   輸入電容低于 15 pF
   5倍頻率范圍或更多測量頻率。
   鉛探頭應(yīng)盡可能短。
   測量頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過放大器時,可同時進(jìn)行測量。
(3)   其他
    CL包含探頭電容。
    應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
    使用微型插槽,以觀察波形。
(請勿使用該探頭的長接地線。)

3.    測試電路

FL :在頻率電壓控制功能時,進(jìn)行連接
1CMOS 負(fù)載
型號:

FL
2 抗低,電容負(fù)載
型號:

FL
              
3 TTL 負(fù)載
型號:

FL
               
4 LV-PECL 負(fù)載
型號:

FL
                 
5LV-PECL 負(fù)載
型號:

FL
6 LV-PECL 負(fù)載
型號:

FL
7 LVDS 負(fù)載
型號:

FL
8 HCSL 負(fù)載
型號:

FL

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